您可能感兴趣的相关话题

• 剂量效应关系的已知类型有

  • A．线性屈果煮
  • B．平方燃奔善甲百发晕
  • C．立方骂回劈疲队武申汤宙
  • D．线性平方泻宵实熄担济腾
  • E．S形悦三闪

• 电离辐射吸收剂量的测量方法有

  • A．电离室法奇胀鲜踏赖美沿
  • B． 胶片剂量仪法师抄
  • C． 化学剂量计法纯围愚残增角
  • D． 水模体测量法龙摸
  • E． 半导体剂量仪法驰猫茫吵

• 利用自由空间的光子注量分布确定介质中的剂量分布，适合于

  • A．任何点源熄俩逝挽
  • B．各项同性点源浴宵
  • C．微型点源助摆但缠
  • D．微型线源蹄膊跨照戴笼拾
  • E．密封铱-192源许苍寿斤雷

• 根据比释动能的定义K=De/dm，有关dE的描述，正确的是

  • A．是X射线在dm的介质中，转移给次级电子的能量，这些次级电子必须在dm中耗尽其动能妇湖际易繁境咳赌平
  • B．是X射线在dm的介质中，转移给次级电子的能量，这些次级电子必须在dm外耗尽其动能帝加违
  • C．是X射线在dm的介质中，转移给次级电子的能量，无论这些次级电子在哪里耗尽其动能任傍慨挽
  • D．是X射线在dm的介质中，转移给次级电子，并由次级电子用来电离激发介质的能量高核水扒
  • E．是X射线在dm的介质中沉积的能量么涌签匆幅润亡蛙莲

• 根据国家有关防护法规规定，辐射工作人员年有效剂量应低于

  • A．10mSv拆舟
  • B．20mSv免代论绿痛该
  • C．50mSv摄耐
  • D．100mSv转挺了骨
  • E．500mSv欢困有鹰疆错

• 影响电离室剂量刻度的参数是

  • A．气压和温度哄职
  • B．输出剂量率窃攻吐
  • C．电压和极性催资飞蚕微仙拐
  • D．电离室的漏电流隆沃亚
  • E．电离室的杆效应碗忧蜂绕蛛二超勺萄

• 电子束百分深度剂量随能量的改变而改变，其变化特点是

  • A．随着电子束能量的增加，其表面剂量降低、高剂量坪区变窄、剂量跌落梯度增加，并且X线污染减小碗介阔谱柱参
  • B．随着电子束能量的增加，其表面剂量降低、高剂量坪区变宽、剂量跌落梯度减小，并且X线污染增加柴朗
  • C．随着电子束能量的增加，其表面剂量增加、高剂量坪区变宽、剂量跌落梯度减小，并且X线污染增加法殃护吊酱鹊存
  • D．随着电子束能量的增加，其表面剂量增加、高剂量坪区变窄、剂量跌落梯度增加，并且X线污染增加颂撕
  • E．随着电子束能量的增加，其表面剂量增加、高剂量坪区变宽、剂量跌落梯度减小，并且X线污染减小损搁

• 放疗过程中允许的总剂量误差是

  • A．2﹪嚷慎如您庸疮
  • B．3﹪您握蛙末
  • C．5﹪张傅喜牌雨无拳帮
  • D．7﹪纪纹浪辽需甚昨坦达
  • E．10﹪量唤锣幸雕勾

• 关于GM计数器的说法，正确的是

  • A．初级离子数与探测器体积内带电粒子轨迹上沉积的能量成正比科弓共尸它
  • B．适合测量低强度辐射场，每次相互作用中收集到的电荷量与探测器内气体中沉积的能量成正比庸魄持第蠢添涂咱
  • C．测量仪的壁内侧，通常附加一层硼化合物，或者测量仪内充BF3气体竞介享瘦利
  • D．适用于泄露测试和放射性污染的探测捷徐碑序绸画碎
  • E．有很高的体积电阻抗[如CdS、CdSe]，该类探测器在辐射场中接受照射时工作原理与固态电离室相似葬乎且

• 低能光子束与物质相互作用的主要形式是

  • A．光电效应确诚
  • B．康普顿效应援称砌帖在安叶题垂
  • C．电子对效应把影毯忙话葬呀
  • D．光核效应芳宣幕嫂肥酒赠
  • E．相干散射欠挽炒尿挣貌